28 May
Jupiter XR大样品快速扫描原子力显微镜新增快速力成像功能
Oxford Instruments Asylum Research为Jupiter XR大样品快速扫描原子力显微镜添加了快速力成像（FFM）功能，让用户在检验样品形貌的同时，还能得到模量、附着力和硬度等纳米机械特性。此外，若是搭配导电AFM探针夹持器（ORCA），也可以测量样品的导电特性。
Oxford Instruments Asylum Research的应用科学家经理Jason Li博士表示，Jupiter XR大样品快速扫描原子力显微镜上的快速力成像模式，以及调幅－调频（AM-FM）模式使得用户能够研究更加多样化样品的纳米机械特性，也解决了单一力曲线方法可能较为困难或是不够全面的问题。
Asylum Research原子力显微镜在各种不同的工业以及学术研究领域中皆有广泛的使用对象，其中包含了能量存储、聚合物、半导体及二维材料等。Jupiter XR能提供高分辨、高效率的测量结果，不仅噪声低，其大样品台能够相容最大200毫米直径样品，扫描范围可达100×100微米，每幅图的扫描时间低于一分钟。
Jupiter XR™具有可高速精准定位的210 mm样品台，定位全程无死角；简单直观的系统设置的软件控制，配备全自动的激光和探测器对准，成像参数的自动智能优化，自动多点成像和分析；以及Asylum Research独特的blueDrive™光热激发轻敲模式，可以提高探针尖端寿命和测量可重复性。
Asylum Research一直以来都有着广泛应用且配件可支持模块化设计，其推出的功能多样性的全新大样品AFM—Jupiter XR™将会适用于科学研究、大批量工业应用和故障分析实验室等领域。无论是怎样的研究领域，Jupiter XR™的易用性、高速度、高性能和灵活性等都能游刃有余。
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