使用原子力显微镜对扭曲的二维材料进行莫尔纹表征分析

原子力显微镜专为在环境条件下探测纳米级表面而设计，可以快速表征范德华异质结构（例如扭曲的双层石墨烯）中的莫尔纹超晶格。莫尔纹是通过各种原子力显微镜模式观察到的，包括压电响应力显微镜 (PFM)、横向力显微镜 (LFM)、传导原子力显微镜 (AFM)、开尔文探针力显微镜 (KPFM)、扭转力显微镜 (TFM) 和接触模式。我们将查看来自各种 AFM 技术的莫尔纹成像示例，讨论每种技术的相对优势和权衡取舍，并提供一些实用的成像建议。此外，莫尔纹图案是否简单易懂，不仅取决于所使用的成像技术和设置，还取决于原子力显微镜本身。由于莫尔纹对比度主要来自相对较小的信号，因此原子力显微镜的本底噪声和对环境噪声的敏感度越低，莫尔纹就越容易成像。高性能原子力显微镜使莫尔纹成像成为一种简单的常规测量。

加入我们，探索：

•  通常用于研究扭曲的二维材料的 AFM 模式概述
•  这些模式对莫尔纹成像的优缺点

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