19 Aug

Unity在M&M 2024大会上荣获行业权威奖项

Microscopy & Microanalysis（M&M） 会议是显微分析领域的年度盛会，汇聚了来自全球的专家学者、技术人员和企业代表。在M&M 2024大会上，Unity探测器凭借其创新的硬件设计和在微区分析方面的重要贡献，荣获本年度“十佳显微技术创新”奖项。

每年，Microscopy Today都会评选出在显微学和显微分析领域做出重要创新的十个组织或个人。按照优中选优的原则，获奖者需在显微分析技术的发展中提供更好、更快、更便捷的解决方案或全新技术路径。

Unity探测器于M&M 2023首次亮相，标志着一种全新成像技术的诞生——背散射电子及X射线（Backscattered Electron and X-ray, BEX）成像。Unity BEX探测系统可同步采集BSE和X射线信号，并实时呈现样品微观结构和化学成分的高分辨率全彩图像。

从左到右：  Robert L. Price, Haithem Mansour & Charles Lyman

Unity的创新设计将BSE和X射线传感器完美集成于样品上方，为研究样品形貌、通道衬度、原子序数衬度和元素信息提供了高效、高空间分辨率的解决方案。用户可以轻松实现样品导航，从而大幅简化复杂样品的分析流程。
Microscopy Today是美国显微学会（Microscopy Society of America, MSA）旗下的出版物，致力于为各行业显微分析工作者提供前沿的信息与动态。牛津仪器Unity产品经理 Haithem Mansour表示：

“我们非常荣幸Unity BEX成像系统被视为SEM表征技术的一项重大进展，同时也为Unity获得显微分析领域权威组织MSA的认可而感到振奋。”

Unity BEX成像案例集锦