材料表征与检测技术是研究物质的微观状态与宏观性能之间关系的一种手段，是材料科学与工程的重要组成部分，是材料科学研究、相关产品质量控制的重要基础。

 

仪器信息网将在2021年12月14-15日继续举办“第三届材料表征与分析检测技术网络会议（iCMC 2021）”，两天的会议将分设：1）成分分析、2）表面与界面分析、3）结构形貌分析及4）热性能分析四个专场。牛津仪器很荣幸受邀参加分会3），并在12月15日10:00-10:30为大家带来牛津仪器显微分析技术进展及应用，欢迎感兴趣的老师及同学们报名参加，并与我们的应用科学家在线交流和讨论！

 

会议日程

日程安排：

 

12月15日 结构与形貌分析专场

报告简介

标题：牛津仪器显微分析技术进展及应用

摘要：

最近，牛津仪器在多种分析技术上都有新的发展。能谱技术方面，我们推出了实时化学成像，做到无延迟简便操作，能更方便的随时采集能谱。EBSD技术方面，我们推出了第二代CMOS EBSD——Symmetry S2，具有更高的采集速度4500点/秒；还改进了软件操作，创新地引入专门的TKD面分布图采集导航。广受好评的AZtecCrystal数据后处理软件也做了重大更新，母相晶粒重构功能能快速准确的重构马氏体的原奥氏体晶粒；图像校正功能能帮助校正EBSD面分布图，得到更准确的面分布图；高级位错分析功能，加权柏氏矢量，有助于分析位错和滑移系统。波谱仪比能谱仪更精准，但相比操作更复杂，AZtecWave 将波谱仪和能谱仪结合，一般元素用能谱采集，难做元素用波谱采集，极大的方便了数据采集和应用。 

 

 

 

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报告人简介

杨小鹏 应用科学家

牛津仪器

杨小鹏，博士，2010年清华大学材料科学与工程专业毕业，博士课题主要研究材料的相变过程。曾任职EBSD后处理功能软件开发，熟悉EBSD底层的计算。2014年加入牛津仪器，主要负责EBSD技术支持及推广工作至今。擅长相变、晶体学和织构分析、善于编写程序分析、解决晶体学相关的计算问题。

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