见微学堂 | 李桃教授与您分享扫描探针显微镜技术在材料多场耦合研究中的应用

Dec

14

扫描探针显微镜（SPM）最大的特色之一是可以实现具有空间分辨的多物理场下的原位表征与调控，尤其适用于具有丰富物理特性的铁性材料研究。

本报告将主要介绍研究团队利用扫描探针显微镜技术在材料多场耦合研究中的部分结果。报告将以铁电薄膜为核心，结合电场、光场、应力场的调控，介绍铁电薄膜及其异质结中的多场耦合现象，展示SPM在铁性材料与器件性能研究中的应用价值。

主讲人介绍

李桃教授

西安交通大学材料学院

现任职于西安交通大学材料科学与工程学院自旋电子材料与量子器件研究中心，国家级青年人才项目获得者，西安交通大学青年拔尖人才。长期运用多物理场原位表征方法，围绕空间结构与多种物性的内在关联进行器件性能调控及新功能开发，利用多场耦合的手段，基于界面效应，实现对材料性质的调控。目前已在Nat. Mater.、Sci. Adv.、Nat. Commun.、Adv. Mater.、Nano Lett.等国际权威期刊发表SCI论文50余篇，SCI总引用3000余次。任Chem. Soc. Rev.、Adv. Mater.、Nano Energy 等权威期刊审稿人，受邀在国内外知名会议及科研院校做口头报告20余次。