Jun
5
会议邀请 | 上海天文馆-牛津仪器联合实验室地外样品微区分析研讨会

随着我国深空探测任务的深入推进,地外样品的研究已进入全新阶段。微观尺度的精细表征,已成为破解行星起源与演化的核心关键。

为了更好地分享与交流地外样品的分析经验,上海天文馆联合牛津仪器共同举办本次技术研讨会。研讨会将聚焦地外样品的微区分析前沿,特邀专家学者分享最新的研究成果。届时,牛津仪器的应用专家也将介绍EDSEBSDRaman纳米压痕等尖端技术在陨石等地质样品成分结构及力学性能分析中的创新应用,助力科研人员深度挖掘地外样品背后的宇宙奥秘。

会议定于2026年6月5日在上海天文馆举行。我们诚邀地质学、行星科学及相关领域的专家学者拨冗参会,齐聚滴水湖,共襄学术盛举!

会议信息

时间:2026年6月5日 周五09:00-17:00

地点上海天文馆(上海市浦东新区临港大道380号)

会议日程

会议日程


扫码报名

扫描/点击二维码报名参与




位置

上海

日期

2026年6月5日

业务部门

NanoAnalysis

沪ICP备17031777号-1 公安机关备案号31010402003473