应用

监测和过程控制

对硬盘进行硬颗粒分析

硬盘中磁盘故障和读写头崩溃的最大原因之一是存在异物和污染物颗粒。了解这些杂质颗粒的来源是确保产品和工艺可靠性的关键。使用 AztecFeature 软件平台上的硬粒子(HPA)分析模块可以发现各种污染物粒子并对其进行分类。通过定制的分类方案,不仅可以了解颗粒的形状、尺寸和化学性质,还可以了解颗粒在生产过程中的来源,从而确保最终产品和产品中所用零部件的质量。

X 射线成像是快速可靠地检测许多消费品组件(如印制电路板和电池)的关键技术。我们的 X 射线设备和电源布设在世界各地 24/7 在线系统中,让移动连接与我们触手可及。

AFM for Semiconductor and Microelectronics Research AFM Tools for Nanoscale Electrical Characterisation Process control and particle analysis Process Control and Particle Analysis

产品

沪ICP备17031777号-1 公安机关备案号31010402003473