应用

高聚物多层膜的结构图像及失效分析

有关: 聚合物

通常SEM-EDS技术被用来研究高聚物多层膜的分布状态以及镀层失效等情况。比如,使用EDS元素面分布图检测多层膜截面,观察元素的分布情况。比较“完好膜”(Control film)及缺陷膜(Defective film),SE电子图像显示顶部(亮的)层在缺陷膜中大幅减少。通过EDS面分布图,可以显示更多元素分布细节,PET层减少,主要体现在O元素分布明显降低,同时缺陷膜中保护层消失主要与元素Si、cl的缺乏有关。

Imaging of Layered Polymer Structures and Failure Analysis figure 1
AFM for Polymer Science AFM for Nanomechanical Measurements Failure Analysis of Polymer Coatings

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