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高分子表面性能表征中的AFM探针:从选型到应用

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高分子表面性能表征中的AFM探针:从选型到应用

高分子材料微观形貌、界面力学、相分离结构、表面电势等微观特征,直接影响材料成型性能,原子力显微镜(AFM)是高分子微观表征的核心设备,而AFM 探针作为成像探测必备耗材,直接决定表征数据的精准度。

无论是高分子薄膜、水凝胶、嵌段共聚物还是高分子单链,不同样品的不同性能表征均需匹配合适探针。本次线上直播将介绍 AFM 探针在高分子表征中的各类应用与选型技巧,现诚挚邀请您拨冗观看。

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主讲人

唐秀霞 - 牛津仪器
消耗品应用工程师


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牛津仪器AFM探针


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