电镜平台已经成为材料研究的通用工具，结合 EDS 和 EBSD 可以给出元素分布、晶体结构信息，已经是强组合，但面对有机/聚合物、碳材料、需要无损三维分析的包裹体等场景时，仍然缺乏有力工具。
Raman 恰好能填补这一空白，通过分子振动指纹，无损识别材料组分种类、晶型、结晶性与应力分布等。然而，传统 Raman 工作流普遍存在的痛点： SEM 定位目标区域后盲找特征区域，样品转移后坐标偏移，仅仅在寻找特征区域上就耗费大量时间，也无法精确定位亚微米级特征。
RISE 正是解决这一痛点的关键，将 Raman 集成到 SEM 腔体中，实现同一视野、同一坐标的高精度空间关联，无需转移样品，即可同步获得形貌、成分、晶相与分子结构信息，同时不损失电镜、其它附件及 Raman 任何一项技术的分辨率，实现 1+1>2 的样品分析。
本次讲座将包括 Raman 原理速览，RISE 核心优势与适用场景，多材料应用案例及 RISE 最近功能简介。
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