14 May
应用报告 | AztecWave, 焊接品控好帮手
在前述三篇文章中，我们系统性地介绍了牛津仪器新一代波谱仪AZtecWave的特点及优势，那么它在电子器件分析中有何具体应用呢？
点击查看往期内容：
篇章三 | AZtecWave 能否重现电子探针 (EPMA) 的定量结果？
焊料、封装材料、互连材料和涂层等材料中可能存在的杂质、元素偏析或析出物会严重影响电子器件的性能。因此，准确测量电子器件中各种微量、痕量元素的含量至关重要。波谱仪（WDS）和AZtecWave在电子器件制造过程中的应用将促进电子行业的质量提升。
WDS比能谱仪（EDS）有更高的峰背比，许多元素的检测限通常可达到100 ppm以下。此外，得益于和电子探针（EPMA）相似的结构设计，AZtecWave的能量分辨率比EDS优异10倍以上，可以完全区分包括所有过渡族元素在内的特征X射线（例如Ti Kβ和V Kα）的谱峰重叠 。因此，配置AZtecWave的扫描电子显微镜（SEM）能对微量和痕量元素进行准确定量，进而大幅度提升SEM平台的分析能力。Rosie使用现已集成在AZtec软件平台上的WDS模块测试了不同无铅焊料的成分，所得结果展示如下。
图1：Sn-Sb焊料的EDS谱图，其中Sn Lβ线（3.662 keV）与 Sb Lα线（3.605 keV）有重叠。右侧迷你视窗中的点分析结果显示该样品的Sb含量低于5 wt.%。Sn与Sb的浓度分别由AZtecWave中集成的EDS和WDS模块同时测量获得。
欢迎点击文末“阅读原文”，了解更多使用 AZtecWave进行电子器件焊料中微量-痕量元素检测的案例。
