24 Oct

牛津仪器亮相2018全国电子显微学学术年会

2018年全国电子显微学学术年会于10月23日在成都市禧悦酒店顺利召开。牛津仪器作为大会特邀设备厂商亮相现场。

本届年会将设立材料科学与生命科学分会场,材料科学分会场包含:1.显微学理论、技术与仪器发展;2.原位电子显微学表征;3.能源、环境和信息等功能材料的微结构表征;4.结构材料及缺陷、界面、表面,相变与扩散;5.先进电镜技术在工业材料中的应用;6.扫描探针显微学分会场(STM/AFM等);7.扫描电子显微学(EBSD)。8.生命科学分会场;9.生物电镜技术分会场。

本次年会是了解电子显微学及相关仪器技术的前沿发展,交流基础研究与应用研究新进展的高学术水平的大会。 牛津仪器将在大会期间与大家分享介绍产品的最新应用。

第四分会场: 结构材料及缺陷、界面、表面,相变与扩散 时间:10月24日 15:50-16:10 报告人:马岚 博士 应用工程师 报告题目:能谱及EBSD在结构材料表征中的应用

第三分会场: 能源、环境和信息等功能材料等为结构表征 时间:10月25日 15:45-16:05 报告人:陈帅 博士 应用工程师 报告题目:超级能谱Extreme在功能材料为结构表征中的应用

现场演示

演示时间: 10月24日 10:00-11:00 13:30-14:30 10月25日 13:30-14:30 15:30-16:30

演示地点:成都市禧悦酒店一楼TESCAN设备展示区 我们将现场演示Azteclive系统以及强大的UltimMax170的优异性能。

另外,牛津仪器展位为大家准备了咖啡和茶歇,我们期待各位老师在全国电子显微学学术年会期间光临我们的展台。

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日期:  24 October 2018

业务部门:  NanoAnalysis

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